VAIO Phone Biz / VAIO Phone A 180cm 落下試験

 

落下試験の目的は、落下の衝撃から本体の内部を可能な限り守ることです。様々な場面での鞄や手元からの落下など、日常の使用シーンで起こり得る落下時の衝撃を想定しています。180cmの高さからVAIOを、筐体の天地、両側面、前後6面それぞれから落下させ、その後、内部点検も含めて念入りに調べ、持ち歩きなどのさまざまなシーンで落下してしまった場合でも、ユーザーデータを守る堅牢性を追求しています。 ※ 品質試験は、弊社の規格に基づいて特定の環境のもとで行われています。本製品の品質試験は、無破損・無事故を保証するものではなく、スマートフォンのデータを保証するものではありません。 ※品質試験動画はVAIO Phone Bizにて実施していますが、VAIO Phone Aも同等の安全性と堅牢性を備えています。